本課程藉由學習薄膜材料、半導體元件、積體電路等三種不同級的電性、物性、光性分析方法與故障分析工具的介紹，從重要的故障分析儀器入門，清楚介紹儀器的物理行為與如何應用在半導體產業之故障分析，提高工作以及產品的良率。講師藉由積體電路製程與故障分析20多年實務經驗，節省從事半導體人員摸索或錯誤判定的時間。此課程可即學即用，是半導體之積體電路產品公司最需要的課程，值得向各界推薦。

 

 

經濟部工業局『112年度智慧電子人才應用發展推動計畫』

◆主辦單位：經濟部工業局

◆承辦單位：財團法人資訊工業策進會

◆執行單位：工業技術研究院

◆工業局一般身分補助

◆歡迎企業包班~請來電洽詢課程承辦人：吳小姐(Joy) 04-25605409

 

 

課程名稱	課程大綱
半導體製程量測 : 產線過程中的分析監控量測與良率關係	積體電路製程流程概述 WAT (wafer acceptable test)觀念 製程過程中的量測技術 設計準則 (Design Rule)
IC故障分析: 故障成因與良率關係	良率的概念 良率與故障分析流程 故障案例分析 晶圓測試相關流程與測試靈敏度(test marginality、shomo plot)
半導體材料分析技術與應用: 材料分析常用設備與技術	※電性&化性故障分析: 微光顯微鏡Application of Emission Microscopy (EMMI) 材料的注入光束分析Beam-injection Analysis in Materials 掃描式電子顯微鏡的應用Application of Scanning Electron Microscope (SEM) 能量色散光譜儀Energy Dispersive Spectrometer (EDS) 雙束聚焦離子束的應用Application of Dual-beam Focus Ion Beam (DB-FIB) 電壓對比Voltage Contrast (VC)

 

 

邱老師

【學歷】國立成功大學 微電子工程研究所 博士
【經歷】南臺科技大學、光電與積體電路故障分析中心 執行長、台積電等實務經驗20年以上
【專長】半導體元件物理、發光二極體開發、積體電路故障分析、半導體材料分析，晶元光電教育訓練講師、廣鎵光電教育訓練講師、南茂科技教育訓練講師

 

• 電路與元件設計、製程工程、製程整合工程人員
• 封裝測試工程人員、客戶服務工程人員
• 積體電路產品工程師
• 系統與韌體工程師
• 故障與材料分析工程師
• 有興趣進入半導體產業之相關領域等學員

 

身份別(本國籍)	費用	說明
一般身分補助	每人6,700元	原價NT$ 11,700，政府補助 NT$5,000，學員自付 NT$ 6,700
	每人6,500元	須於課前14天 或 同時2人(含以上)報名

◎本課程經政府補助，上課學員皆需依規定填寫相關資料，且學員出席時數需達報名課程時數八成以上，方可適用補助辦法，若未符合規定者，則需將其政府補助費用繳回。

★因應性別主流化國際趨勢，打造友善職場之發展，歡迎女性學員踴躍報名

 

 

• 課程日期：112年10月24日~10月25日 09:30~16:30，共12小時
• 課程地點：中科管理局工商行服務大樓4樓或9樓教室【台中市428大雅區中科路6號】
• 報名方式：採線上報名
• 證書授予：參加課程之學員研習期滿，出席率超過80%(含)以上，即可獲得工研院頒發的培訓證書。
• 課程洽詢：04-25604622彭小姐、04-25605409 吳小姐
• 注意事項：

1. 為尊重講師之智慧財產權，恕無法提供課程講義電子檔。
2. 請註明服務機關之完整抬頭，以利開立收據；未註明者，一律開立個人抬頭，恕不接受更換發票之要求。
3. 為確保您的上課權益，報名後若未收到任何回覆，請來電洽詢方完成報名。
4. 若報名者不克參加者，可指派其他人參加，並於開課前一日通知。
5. 如需取消報名，請於開課前三日以書面傳真至主辦單位並電話確認申請退費事宜。逾期將郵寄講義，恕不退費。
6. 結訓學員應配合經濟部工業局培訓後電訪調查

• 退費辦法：請以學員於開訓前退訓者，將依其申請退還所繳上課費用 90％，另於培訓期間若因個人因素無法繼續參與課程，將依上課未逾總時數 1/3，退還所繳上課費用之 50％，上課逾總時數 1/3，則不退費

 

 

 

半導體系列-課程專區	時數
◆先進半導體電子封裝技術人才培訓班	18